(6/29)半導体パッケージの反り対策に向けた材料開発と測定技術

価格帯: ¥39,600 – ¥49,500 (税込)
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半導体パッケージの反り対策に向けた材料開発と測定技術 2.xDパッケージ作成プロセスにおける反りによる実装課題とその対策手法3D デジタル画像相関法(DIC)による反り測定技術 受講可能な形式:【ライ…

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セミナー

半導体パッケージの反り対策に向けた材料開発と測定技術

2.xDパッケージ作成プロセスにおける反りによる実装課題とその対策手法3D デジタル画像相関法(DIC)による反り測定技術





日時 【ライブ配信】 2026年6月29日(月) 13:00~17:10
受講料(税込) 49,500円
定価:本体45,000円+税4,500円

【2名同時申込みで1名分無料キャンペーン(1名あたり定価半額の49,500円)】
※2名様とも会員登録をしていただいた場合に限ります。
2名様以降の受講者は、申込み前に会員登録をお済ませください。
※同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。
※3名様以上のお申込みの場合、上記1名あたりの金額で受講できます。
※請求書(PDFデータ)は、代表者にE-mailで送信いたします。
※請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。
  (申込みフォームの通信欄に「請求書1名ごと発行」と記入ください。)
※他の割引は併用できません。

※テレワーク応援キャンペーン(1名受講)【オンライン配信セミナー受講限定】
1名申込みの場合:受講料 定価:39,600円

定価:本体36,000円+税3,600円
※1名様でオンライン配信セミナーを受講する場合、上記特別価格になります。
第1部 半導体パッケージの反り抑制の課題と対応する材料技術(13:00~15:00)
(株)レゾナック パッケージング&パワーソリューションセンター 姜 東哲 氏
第2部 最新の反り測定技術3Dデジタル画像相関法(DIC) (15:10~17:10)
Cobranchor(株) 代表取締役 高橋 篤 氏
[講師略歴]
1989年 長瀬産業(株)入社
2015年 台湾長瀬半導体チームリーダー
2016年 台湾長瀬COO兼長瀬厦門CEO
2020年 NVC室 半導体チームリーダー、IEEE EPS TC6委員
2021年 NVC室 半導体戦略推進チームサブリーダー
2023年 JEITA 実装技術ロードマップWG3委員
2024年 先進機能材料事業部 先端半導体課 後工程チームリーダー、JEITA WG1委員
JIEP システムインテグレーション委員会 3Dチップレット研究会 委員
2025年 Cobranchor(株) 設立

第1部 半導体パッケージの反り抑制の課題と対応する材料技術

 AI半導体の台頭により、半導体パッケージの大型化、高機能化が加速度的に進行中である。その中でも2.xDパッケージと呼称される、主にデータセンターなどサーバー向けボードに実装されうる半導体パッケージに求められる要求は年々高くなっている。当然の事ながら、構成される部材にはこれまで以上の特性が必要とされ、なかでもパッケージの大型化に伴う反り抑制に対する要求は特筆して高いものとなっている。本講演では、2.xDパッケージの作成プロセスに則って、反りにより直面している実装課題や、その対策手法などに関して報告する。

1.会社紹介

2.パッケージング&パワーソリューションセンターの紹介

3.JOINT2プロジェクトの概要

4.2.xDパッケージの作成プロセスと技術課題

 ・トップダイの実装からマザーボード実装まで、プロセスフロー概略
 ・1次実装における技術課題、必要な材料特性をシミュレーション結果を含めて紹介
 ・1.5次実装における技術課題、封止材料が直面する技術課題に関して紹介
 ・2次実装における技術課題、はんだリフロー実装により直面する応力起因の信頼性課題に関して紹介
 ・リフロー温度低減による、反り抑制技術と、得られた信頼性結果の紹介
 ・今後期待される材料特性と、直面する課題に関して紹介

<受講によって得られる知識・ノウハウ>
・半導体パッケージの変遷
・AI半導体パッケージの概略
・2.xDパッケージの作成プロセス
・各種部材の反りが引き起こす実装課題と、その対策
・反り発生メカニズム
・今後期待されうる材料動向
配布資料 Live配信受講:PDFテキスト(印刷可・編集不可)

 ※セミナー資料は、電子媒体(PDFデータ/印刷可)をマイページよりダウンロードいただきます。
  (開催前日を目安に、ダウンロード可となります)
 ※ダウンロードには、会員登録(無料)が必要となります。
オンライン配信 【Live配信の視聴方法】
【ライブ配信(Zoom使用)セミナー】
 ビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。

・ZoomによるLive配信 ►受講方法・接続確認(申込み前に必ずご確認ください)

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備考 資料 付
※講義の録画・録音・撮影はご遠慮ください。
※開催日の概ね1週間前を目安に、最少催行人数に達していない場合、セミナーを中止することがございます。

本セミナーはサイエンス&テクノロジー株式会社が主催いたします。

第2部 最新の反り測定技術3Dデジタル画像相関法(DIC)

 昨今の急激な生成AI半導体市場拡大により半導体パッケージの大型化、チップレット化、パネルレベルパッケージ化の進展が顕著になっている。それに伴う複雑な反り挙動に対して高信頼性、高歩留まりに貢献可能な最新反り測定技術を紹介する。

1.反り測定技術の基礎:反り測定技術比較
 共焦点顕微鏡、白色干渉計、シャドーモアレ、プロジェクションモアレ、デジタル画像相関法(DIC)に関する原理、特徴、課題、主流技術

2.デジタル画像相関法(DIC)の基礎:原理、優位点、劣位点

3.デジタル画像相関法(DIC)の実用:具体的な測定方法、最適条件設定


4.デジタル画像相関法(DIC)の展開:最新3D DICの紹介

 グローバル/ローカルシステム、プロジェクションDIC、ステレオDIC

<受講によって得られる知識・ノウハウ>
・反り測定技術の基礎知識
・反り測定技術の最新トレンド
・反り測定技術の今後の展開

キャンセル規定(サイエンス&テクノロジー社の規定に準じます)

会場受講・ライブ配信・アーカイブ配信開催日から営業日で逆算し
7 営業日前まで:キャンセル料なし
6〜3 営業日前:受講料の 70%
2 営業日前〜当日・欠席:受講料の 100%
オンデマンド配信お申込み後 8 日以内(土日祝含む)で、視聴・テキストのダウンロードの形跡がない場合はキャンセルできます。
  • 代理の方のご受講が可能です(受講者変更のご依頼を承ります)。
  • ご入金後にご返金が発生する場合、振込手数料はお客様のご負担となります。
  • お申込み後の支払方法の変更はできません。

追加情報

参加形態

テレワーク応援キャンペーン【オンライン配信1名受講限定】, 2名同時申込みで1名分無料, ライブ配信で参加